HAST試驗(yàn)箱不飽和型

一、產(chǎn)品概述

HAST試驗(yàn)箱不飽和型該設(shè)備主要是測(cè)試產(chǎn)品在高溫、高溫高濕及壓力的氣候環(huán)境下的貯存、運(yùn)輸和使用時(shí)的性能試驗(yàn)，

主要用于對(duì) 電工、電子產(chǎn)品，元器件、零部件、金屬材料及其材料在模擬高溫、高溫高濕及壓力的氣候條件下，對(duì)產(chǎn)品的物理 以及其它相關(guān)性能進(jìn)行測(cè)試，測(cè)試后，通過(guò)檢定來(lái)判斷產(chǎn)品的性能是否能夠達(dá)到要求，以便供產(chǎn)品的設(shè)計(jì)、改進(jìn)、 檢定及出廠檢驗(yàn)使用。密封性能的檢測(cè)，相關(guān)之產(chǎn)品作加速。

二、產(chǎn)品用途

本設(shè)備主要用于電子產(chǎn)品、半導(dǎo)體器件、集成電路、光伏組件、汽車(chē)電子、航天器件等領(lǐng)域的加速老化測(cè)試。通過(guò)模擬高溫高濕環(huán)境，能夠在較短時(shí)間內(nèi)評(píng)估產(chǎn)品的濕熱可靠性、材料穩(wěn)定性及潛在失效模式，為產(chǎn)品研發(fā)、質(zhì)量控制和壽命評(píng)估提供數(shù)據(jù)支持。

三、滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn):

GB2423-2-1-89\GB2423-3-2-89\GB2423-3-89 高溫高壓高濕老化箱執(zhí)行與滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)

1. GB/T10586-1989 濕熱試驗(yàn)室技術(shù)條件；

2. GB2423.3-93（IEC68-2-3）恒定濕熱試驗(yàn)；

3. MIL-STD810D 方法 502.2；

4. GJB150.9-8 溫濕試驗(yàn)；

5. GB2423.34-86、MIL-STD883C 方法 1004.2 溫濕度、高壓組合循環(huán)試驗(yàn)

四、技術(shù)參數(shù)

溫度范圍：105℃~143℃

濕度范圍：65%~100%RH

溫濕度偏差溫度：±2.0℃    濕度: ±3% RH  

溫度波動(dòng)度：≤0.5℃

溫度均勻度：≤2.0℃

壓力范圍：0.2～2.87bar箱內(nèi)相對(duì)壓力（絕對(duì)壓力加 1 個(gè)大氣壓壓力）

偏壓端子：0~48 個(gè)可選

升溫時(shí)間常溫： → +143℃  約 60 min

升壓時(shí)間常壓： → 2.87bar 約 80 min.

偏壓端子如果做靜態(tài)測(cè)試可忽略（1600V，AC220V 電流 5A 以?xún)?nèi)。按客戶(hù)要求定制）

五、應(yīng)用領(lǐng)域

半導(dǎo)體行業(yè)：芯片、封裝器件、集成電路的濕熱可靠性測(cè)試

電子元器件：電容、電阻、連接器、PCB的耐久性評(píng)估

汽車(chē)電子：ECU、傳感器、線束等在高溫高濕環(huán)境下的性能驗(yàn)證

光伏領(lǐng)域：太陽(yáng)能電池、組件的濕熱老化測(cè)試

航空航天：機(jī)載設(shè)備、衛(wèi)星部件的環(huán)境適應(yīng)性試驗(yàn)

材料研究：高分子材料、涂層、膠粘劑的耐濕熱性能分析